Бойченко А.М., Яковленко С.И. Зависимости мощности и к.п.д. излучения Xe2* (172 нм) и XeCl (308 нм) эксиламп от мощности энерговклада при наличии микроразрядов, контролируемых рекомбинацией и диффузией
Яковленко С.И Убегающие электроны и формирование мощных субнаносекундных пучков при атмосферном давлении
Гундиенков В.А., Яковленко С.И. Распространение двумерной волны размножения фоновых электронов